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국내외 과학기술 정책에 대한 간략한 정보

단신동향

국내단신

나노 메트롤로지 심포지엄 원문보기 1

  • 국가 한국
  • 생성기관 한국표준과학연구원
  • 주제분류 핵심R&D분야
  • 원문발표일 2006-07-03
  • 등록일 2006-07-04
  • 권호
-초대글-

세계는 지금 나노 제품 시장을 선정하기 위하여 사활적 연구개발 전쟁을 벌이고 있습니다. 이 전쟁에서 승리하기 위해서는 나노 기술을 먼저 실용화하여 시장에 진입하는 것이 가장 중요하닥 전문가들은 말합니다. 우리나라의 나노기술은 각 분야 전문가들의 연구개발 노력으로 전체적으로는 현재 세계 4~5위권의 높은 수준에 이른 것으로 평가되고 있습니다만 1등만이 승리하는 글로벌 환경 하에서 그 전망이 낙관적이지만은 아닌 것 같습니다.

Metrology는 평가 기술, 표준화, 기준물질 등 측정에 관한 과학기술을 말하는 것으로, 물품이나 소재의 연구개발, 생산, 유통, 사용 등 모든 단계에서 없어서는 안 될 언어입니다. Metrology가 없으면 효율적인 연구개발을 진행하기 어렵고, 생산현장에서 품질관리를 할 수 없으며, 믿고 사고 팔 수 없고, 제품을 안전하게 사용할 수 없을 것입니다. 나노 Metrology는 사활적 나노기술 전쟁에서 승리하기 위한 필수적인 요소의 하나라고 보고 있습니다.

이러한 인식 아래 나노 Metrology에 대한 연구개발 정보를 나누고 산업체 및 과학시술계에서의 연구개발 요구사항을 검토하여 Metrology를 나노 기술의 실용화에 선순환으로 연결하는 방법을 종합적으로 모색하기 위한 심포지엄을 개최하게 되었습니다. 바쁘시더라도 참여하시어 자리를 빛내 주시고, 또 나노 Metrology에 대한 정보를 공유하시어 앞으로 하실 일에 도움이 될 수 있는 기회로 활용하시기 바랍니다.


일시: 2006년 7월 7일
장소: 양재 aT Center,중회의실
주최: 한국표준과학연구원
후원: 과학기술부

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